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科大讯飞华南人工智能研究院申请一种 LED 封装材料瑕疵检测方法专利可对 LED 封装的整体质量进行量化评分
作者:小编 日期:2025-01-09 17:18:47 点击数:(105)
金融界 2025 年 1 月 8 日消息,国家知识产权局信息显示,科大讯飞华南人工智能研究院(广州)有限公司申请一项名为“一种 LED 封装材料瑕疵检测方法”的专利,公开号 CN 119251148 A,申请日期为 2024 年 8 月。
专利摘要显示,本申请提供一种 LED 封装材料瑕疵检测方法,包括:针对分离后的各层图像,进行图像增强处理,得到清晰化的各层材料图像;针对所述识别出的交叉瑕疵区域,进行局部精细扫描,获取微米级的三维结构数据,重建出交叉瑕疵的精细形貌特征;根据所重建的交叉瑕疵结构,结合材料数据库中预先存储的各种材料性能参数,模拟计算瑕疵对 LED 性能的影响,包括光学、热学和机械性能;判断所述瑕疵的位置、大小、类型以及对性能的影响程度,对 LED 封装的整体质量进行量化评分,得到最终的检测结果和质量等级判定。
天眼查资料显示,科大讯飞华南人工智能研究院(广州)有限公司,成立于2017年,位于广州市,是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析,科大讯飞华南人工智能研究院(广州)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目1次,专利信息125条,米乐m6此外企业还拥有行政许可6个。
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